표면측정1 [AFM (Atomic Force Microscope), 원자간력 현미경] [AFM 정의] AFM은 Atomic Force Microscope의 약자로, 시료의 표면을 스캔하여 분자나 원자 단위까지 해상도를 높여 관찰하는 분석기기입니다. AFM은 팁과 시료 표면의 원자 간 반데르발스 힘을 검출하여 시료의 표면을 스캔합니다. Cantilever의 팁 끝에 레이저를 반사시켜 반사되는 레이저의 위치를 이용하여 이미지를 그려냅니다. 분해능은 팁 끝의 두께 (나노미터 크기)에 따라 달라지며, 원자 수준의 고해상도 이미지를 얻을 수 있습니다. AFM은 절연된 미세한 탐침을 절연 시료 표면에 원자 단위의 미세한 상호작용을 이용해 이미지를 취득하므로 비접촉 형식의 측정이 가능합니다. AFM은 첨단 재료 연구 분야에서 주요한 기법으로 사용되며, 4세대에 진입하는 원자력 현미경 검사는 고해상도 .. 2023. 4. 18. 이전 1 다음
